Wear Leveling
耗损平均技术
NAND Flash的区块擦写次数(P/E Cycle)是有上限的,如果单一个区块(Block)不断被写入和抹除,该区块就会过度耗损,造成读写速度变慢,严重者甚至会损坏而产生坏块(Bad Block)。 WL技术在于使SSD中的每一个NAND Flash区块平均地被使用,避免数据只在某些区块写入或抹除,导致SSD因为NAND Flash里的坏块过多,而提早损坏。
WL的运作机制,是让SoC控制器通过WL的算法,去计算每一个区块的剩余抹写次数,并将新数据优先写入已抹除次数较少的区块。因为控制器能平均控制每一个区块的抹写次数,如此一来SSD就不会因为NAND Flash的某些区块过度抹写而提早耗损,因此WL技术可以增进SSD的耐用度和稳定性。